中子射线探伤是通过物体对入射中子束强度的衰减而获得物体内部物理完整性两维图像的一种无损检测方法。中子射线探伤的独特优点是能够使检验封闭在高密度金属材料中的低密度材料如非金属材料成为可能。渗透探伤的优点是不受被检试件几何形状、尺寸大小、化学成分和内部组织结构的限制，也不受缺陷方位的限制，一次操作可同时检验开口于表面的所有缺陷；涡流探伤只适用于导体，对形状复杂试件难做检查。磁粉探伤难以发现气孔、夹渣及隐藏在焊缝深处的缺陷，宽而浅的缺陷难以检测。